害怕BT伤硬盘的都进来看看(转贴)
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(这篇文章出自某高手,作者名字不知道, 出处也不知道, 因为我转的那地方就没有注明...汗 。另外, 不代表本论坛观点。) R_\{a*lV0 fLL_{o0T 让伪科学见鬼去吧-硬盘读写频繁是否真的伤害硬盘兼FLASHGET是否真的伤害硬盘。 x)l}d3
!!4_x 事先说明一下,我这里只是提到FLASHGET,没有提到ED和FTP是因为它们的原理都是一样的,我也懒得一个一个打字而已 Oga0CR_ 5#s?rA%u 我强调一下,我这里只是提到FLASHGET,但是它和ED,FTP的原理是一样的对硬盘的所谓耗损也是一样的。 mf6?8!O}> -}1S6dzr 先引用一下某人的话 9r@r\- X|t?{.p 为什么频繁读写会损坏硬盘呢? G`PSb<h\oc 磁头寿命是有限的,频繁的读写会加快磁头臂及磁头电机的磨损,频繁的读写磁盘某个区域更会使该区温度升高,将影响该区磁介质的稳定性还会导至读写错误,高温还会使该区因热膨涨而使磁头和碟面更近了(正常情况下磁头和碟面只有几个微米,更近还了?),而且也会影响薄膜式磁头的数据读取灵敏度,会使晶体振荡器的时钟主频发生改变,还会造成硬盘电路元件失灵。 id@!kSR
2]C`S,) 任务繁多也会导至IDE硬盘过早损坏,由于IDE硬盘自身的不足,,过多任务请求是会使寻道失败率上升导至磁头频繁复位(复位就是磁头回复到 0磁道,以便重新寻道)加速磁头臂及磁头电机磨损。 aM5zYj`pW |_8::kir: 我先说一下现代硬盘的工作原理 vC[)/w 现在的硬盘,无论是IDE还是SCSI,采用的都是"温彻思特“技术,都有以下特点: BbUZ,X*Y 1。磁头,盘片及运动机构密封。 |;ycEB1 2。固定并高速旋转的镀磁盘片表面平整光滑。 ^;n,C+ 3。磁头沿盘片径向移动。 pbKDtqSnz 4。磁头对盘片接触式启停,但工作时呈飞行状态不与盘片直接接触。 CUfD[un2D 0*YLFqN 盘片:硬盘盘片是将磁粉附着在铝合金(新材料也有用玻璃)圆盘片的表面上.这些磁粉被划分成称为磁道的若干个同心圆,在每个同心圆的磁道上就好像有无数的任意排列的小磁铁,它们分别代表着0和1的状态。当这些小磁铁受到来自磁头的磁力影响时,其排列的方向会随之改变。利用磁头的磁力控制指定的一些小磁铁方向,使每个小磁铁都可以用来储存信息。 EC$wi|i .cN\x@
3-j 盘体:硬盘的盘体由多个盘片组成,这些盘片重叠在一起放在一个密封的盒中,它们在主轴电机的带动下以很高的速度旋转,其每分钟转速达3600,4500,5400,7200甚至以上。 (o)nN8 OsPx-|f
S~ 磁头:硬盘的磁头用来读取或者修改盘片上磁性物质的状态,一般说来,每一个磁面都会有一个磁头,从最上面开始,从0开始编号。磁头在停止工作时,与磁盘是接触的,但是在工作时呈飞行状态。磁头采取在盘片的着陆区接触式启停的方式,着陆区不存放任何数据,磁头在此区域启停,不存在损伤任何数据的问题。读取数据时,盘片高速旋转,由于对磁头运动采取了精巧的空气动力学设计,此时磁头处于离盘面数据区0.2---0.5微米高度的”飞行状态“。既不与盘面接触造成磨损,又能可靠的读取数据。 yd[}? 3g9xTG);eA 电机:硬盘内的电机都为无刷电机,在高速轴承支撑下机械磨损很小,可以长时间连续工作。高速旋转的盘体产生了明显的陀螺效应,所以工作中的硬盘不宜运动,否则将加重轴承的工作负荷。硬盘磁头的寻道饲服电机多采用音圈式旋转或者直线运动步进电机,在饲服跟踪的调节下精确地跟踪盘片的磁道,所以在硬盘工作时不要有冲击碰撞,搬动时要小心轻放。 ]H0BUg [[P?T^KT 原理说到这里,大家都明白了吧? 7g}4gX's {EGiGwpf 首先,磁头和数据区是不会有接触的,所以不存在磨损的问题。 KG6ki_ 其次,一开机硬盘就处于旋转状态,主轴电机的旋转可以达到4500或者7200转每分钟,这和你是否使用FLASHGET或者ED都没有关系,只要一通电,它们就在转.它们的磨损也和软件无关。 hL~@Ah5&t 再次,寻道电机控制下的磁头的运动,是左右来回移动的,而且幅度很小,从盘片的最内层(着陆区)启动,慢慢移动到最外层,再慢慢移动回来,一个磁道再到另一个磁道来寻找数据。不会有什么大规模跳跃的(又不是青蛙)。所以它的磨损也是可以忽略不记的。 1U.se`L 0vNEl3f'O 那么,热量是怎么来的呢? _
$PZID ~ ?m'; 首先是主轴电机和寻道饲服电机的旋转,硬盘的温度主要是因为这个。 5 :6^533] 其次,高速旋转的盘体和空气之间的摩擦。这个也是主要因素。 ))cL+r ?Z
{4iF 而硬盘的读写??? Q
,30 很遗憾,它的发热量可以忽略不记!!!!!!!!!! LOpnPH` 硬盘的读操作,是盘片上磁场的变化影响到磁头的电阻值,这个过程中盘片不会发热,磁头倒是因为电流发生变化,所以会有一点热量产生。写操作呢?正好反过来,通过磁头的电流强度不断发生变化,影响到盘片上的磁场,这一过程因为用到电磁感应,所以磁头发热量较大。但是盘片本身是不会发热的,因为盘片上的永磁体是冷性的,不会因为磁场变化而发热。 cOcF VPQ /1ooOq] 但是总的来说,磁头的发热量和前面两个比起来,是小巫见大巫了。 {ER!
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热量是可以辐射传导的,那么高热量对盘片上的永磁体会不会有伤害呢?其实伤害是很小的,永磁体消磁的温度,远远高于硬盘正常情况下产生的温度。当然,要是你的机箱散热不好,那可就怪不了别人了。 "8%B
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5A .pNWpWL. 我这里不得不说一下某人的几个错误:
xu(5U`K )a.Y$![ 一。高温是影响到磁头的电阻感应灵敏度,所以才会产生读写错误,和永磁体没有关系。 %&5 !vK ^;@q^b)ZP 二。所谓的热膨胀,不会拉近盘体和磁头的距离,因为磁头的飞行是空气动力学原理,在正常情况下始终和盘片保持一定距离。当然要是你大力打击硬盘,那么这个震动...... `
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) 三。所谓寻道是指硬盘从初使位置移动到指定磁道。所谓的复位动作,并不是经常发生的。因为磁道的物理位置是存放在CMOS里面,硬盘并不需要移动回0磁道再重新出发。只要磁头一启动,所谓的复位动作就完成了,除非你重新启动电脑,不然复位动作就不会再发生。 c< |